【納米壓痕測試】
服務(wù)背景：隨著MEMS器件和納米涂層廣泛應(yīng)用，傳統(tǒng)力學(xué)測試無法滿足微區(qū)性能評估需求。
檢測重要性：直接獲取薄膜/涂層的硬度、彈性模量，預(yù)防芯片封裝分層失效。
檢測周期：3-5個工作日（含制樣）。

廣電計量能力：
1、配備的納米壓痕儀，載荷分辨率1nN；
2、完成某GPU散熱涂層測試（硬度8.2±0.3GPa，模量120±5GPa）；

廣電計量是一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測機(jī)構(gòu)，技術(shù)服務(wù)保障網(wǎng)絡(luò)覆蓋全國，化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室分布在廣州、無錫、上海、天津、重慶等五地，方便客戶就近檢測服務(wù)。

【BET測試】
背景：1938年Brunauer-Emmett-Teller提出多層吸附理論（BET方程），開啟比表面定量時代。
重要性：催化劑的活性、電池電極的離子傳輸效率直接取決于孔隙結(jié)構(gòu)參數(shù)。
產(chǎn)品類型：MOFs材料、鋰電負(fù)極、分子篩。
檢測標(biāo)準(zhǔn)：ISO 9277（靜態(tài)容量法）、ASTM D4567（微孔材料）。

廣電計量能力：
1、美國康塔Autosorb-iQ三站分析儀；
2、介孔材料孔徑分布重復(fù)性RSD＜1.5%；
3、完成某燃料電池催化劑比表面測試（850±10 m2/g）。

【TOF-SIMS原位電化學(xué)表征測試】
TOF-SIMS技術(shù)是什么？TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）技術(shù)是一種高分辨率表面成分分析的方法。它通過將樣本表面轟擊成離子，并利用飛行時間質(zhì)譜儀測量這些離子的時間和質(zhì)量，從而確定樣本的成分及其分布情況。TOF-SIMS技術(shù)不僅可以提供元素分析信息，還可以提供離子組成分析、分子成像等詳細(xì)數(shù)據(jù)。

服務(wù)背景：鋰電池SEI膜形成機(jī)制研究需表面化學(xué)動態(tài)分析。
檢測重要性：實(shí)時捕捉電極-電解質(zhì)界面副反應(yīng)產(chǎn)物。
檢測周期：5-7個工作日.
廣電計量通過深入研究負(fù)極表面SEI膜的成分和結(jié)構(gòu)，可以為電池材料的改進(jìn)提供重要參考。此外，TOF-SIMS技術(shù)還可以用于研究電池內(nèi)部的化學(xué)反應(yīng)機(jī)制，優(yōu)化電池的工作溫度、電解液成分等條件，提高電池的性能和壽命。隨著技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，TOF-SIMS有望為電池領(lǐng)域的科學(xué)家們提供更多關(guān)鍵的表面分析信息，推動電池技術(shù)的不斷創(chuàng)新。



【XRD檢測】
背景：1912年勞厄發(fā)現(xiàn)晶體X射線衍射現(xiàn)象，1953年沃森-克里克據(jù)此解析DNA結(jié)構(gòu)。
重要性：材料相組成決定力學(xué)性能與化學(xué)穩(wěn)定性，是質(zhì)量控制必檢項目。
產(chǎn)品類型：合金相分析、藥品晶型、礦物組成。
檢測標(biāo)準(zhǔn)：JCPDS PDF卡片庫、GB/T 23413（納米材料）。


【原位紅外測試】
背景：1980年代原位紅外反應(yīng)池商業(yè)化，實(shí)現(xiàn)催化反應(yīng)動態(tài)監(jiān)測從“離線”到“在線”跨越。
重要性：實(shí)時捕捉反應(yīng)中間體，揭示CO?加氫、SCR脫硝等反應(yīng)機(jī)理。
產(chǎn)品類型：汽車尾氣催化劑、光催化材料。
檢測標(biāo)準(zhǔn)：定制化反應(yīng)條件（溫度/壓力/氣氛）。

廣電計量可以提供的原位紅外測試-催化反應(yīng)過程表面物種動態(tài)監(jiān)測服務(wù)。

【吡啶紅外測試】
背景：1960年代Parry發(fā)現(xiàn)吡啶與酸位點(diǎn)特征譜帶關(guān)聯(lián)，成為固體酸催化劑表征金標(biāo)準(zhǔn)。
重要性：調(diào)控催化劑酸性可提升石油裂解選擇性，減少結(jié)焦副反應(yīng)。
產(chǎn)品類型：FCC催化劑、ZSM-5分子篩、磺化樹脂。
檢測標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D7466（酸量計算）。

廣電計量能力：
1、Thermo Nicolet iS50 FTIR配備高溫原位池；
2、定量分析B酸/L酸比例（誤差＜5%）；