廣電計(jì)量提供覆蓋被動(dòng)元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù)，其中針對半導(dǎo)體?藝，具備覆蓋7nm以下芯片DPA分析能?，將問題鎖定在具體芯片層或者μm范圍內(nèi)，針對有水汽控制要求的宇航級空封器件，提供PPM級內(nèi)部水汽成分分析，空封元器件特殊使用要求。

根據(jù)DPA結(jié)果剔除不合格批次，保留合格批次。破壞性物理分析（DPA）是高可靠工程使用的元器件質(zhì)量重要方法之一，主要用于元器件批質(zhì)量的評價(jià)，也適用于元器件生產(chǎn)過程中的質(zhì)量監(jiān)控。 DPA可發(fā)現(xiàn)在常規(guī)篩選檢驗(yàn)中不一定能暴露的問題，這些問題主要是與產(chǎn)品設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、裝配等工藝相關(guān)的缺陷。由于破壞性物理分析技術(shù)有這樣的技術(shù)特點(diǎn)，因此，對J用電子元器件開展DPA，可以把問題暴露于事前，有效防止型號工程由于電子元器件的潛在質(zhì)量問題而導(dǎo)致整體失效。


何時(shí)需開展DPA？
1、進(jìn)貨前檢證：?供應(yīng)商提供DPA合格報(bào)告
2、來料篩選驗(yàn)證：?裝機(jī)前進(jìn)行DPA驗(yàn)證，進(jìn)行內(nèi)部缺陷檢查、可靠性評估及功能測試等質(zhì)量復(fù)驗(yàn)
3、超期復(fù)檢：對貯存期超過有效貯存期的元器件，在裝機(jī)前應(yīng)進(jìn)行DPA復(fù)檢
廣電計(jì)量破壞物理性分析（DPA測試）為企業(yè)提供確認(rèn)元器件的設(shè)計(jì)及制造過程中的偏差和工藝缺陷；提出針對元器件缺陷的處理意見、建議及有效的改進(jìn)方案；預(yù)防因元器件存在的質(zhì)量問題而導(dǎo)致裝機(jī)時(shí)產(chǎn)生的整體失效。

廣電計(jì)量聚焦集成電路失效分析技術(shù)，擁有業(yè)界的團(tuán)隊(duì)及的失效分析設(shè)備，可為客戶提供完整的失效分析檢測服務(wù)，幫助制造商快速準(zhǔn)確地定位失效，找到失效根源。同時(shí)，我們可針對客?的研發(fā)需求，提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實(shí)驗(yàn)規(guī)劃、以及分析測試服務(wù)，如配合客戶開展NPI階段驗(yàn)證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。

破壞性物理分析DPA通常被航空航天工業(yè)用于將電子元件認(rèn)證為“S”類。越來越多的商業(yè)應(yīng)用正在使用破壞性物理分析DPA篩選來顯著提高其產(chǎn)品在現(xiàn)場的可靠性。可靠性更高的電子元件通常需要長時(shí)間運(yùn)行，幾乎沒有更換的機(jī)會(huì)。軌道衛(wèi)星就是這種情況的好例子。滿足“空間使用”要求的零件也用于難以更換和/或故障產(chǎn)生風(fēng)險(xiǎn)的應(yīng)用。
廣電計(jì)量斯對航空航天，商業(yè)，軍事和應(yīng)用中使用的材料進(jìn)行了40多年的破壞性物理分析（DPA）。我們的設(shè)施，并通過了DLA認(rèn)證，可滿足各種MIL-STD測試要求。

廣電計(jì)量視公信力為企業(yè)生命，技術(shù)能力獲得了眾多國內(nèi)外機(jī)構(gòu)和組織的認(rèn)可和授權(quán)，通過了中國合格評定國家認(rèn)可（CNAS）、中國計(jì)量認(rèn)證（CMA）、農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全檢測機(jī)構(gòu)（CATL）認(rèn)可，是國家食品復(fù)檢機(jī)構(gòu)、全國土壤污染詳查推薦檢測實(shí)驗(yàn)室、中國CB實(shí)驗(yàn)室。目前已獲得CNAS認(rèn)可45053項(xiàng)參數(shù),CMA認(rèn)可65113項(xiàng)參數(shù)，CATL認(rèn)可覆蓋7922項(xiàng)參數(shù)；在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)發(fā)展過程中，廣電計(jì)量還獲得、行業(yè)及社會(huì)組織頒發(fā)的資質(zhì)榮譽(yù)200余項(xiàng)?；诒椴既珖姆?wù)網(wǎng)絡(luò)和公信力，廣電計(jì)量幫助客戶穩(wěn)健開拓本地市場乃至全球市場。