光伏組件運行1年和25年后的衰減率到底有多少？25年太久，現(xiàn)在可能還沒有運行這么長時間的電站。按國家標(biāo)準(zhǔn)，晶硅電池2年的衰減率應(yīng)該在3.2%以內(nèi)。但目前這個數(shù)據(jù)還真的很難說，原因有三：
1）光伏組件出場功率是用實驗室標(biāo)準(zhǔn)光源和測試環(huán)境標(biāo)定的，但似乎國內(nèi)不同廠家的標(biāo)準(zhǔn)光源是存在一定的差異的。那在A廠標(biāo)定的250W的組件，到了B廠，可能就是245W的組件的。
2）現(xiàn)場檢測所用的儀器度較差，據(jù)說5%以內(nèi)的誤差都是可以接受的。用誤差5%的儀器，測2%（1年）的衰減，難度有些大，結(jié)果也令人懷疑。
3）現(xiàn)場的測試條件跟實驗室的相差較大，正好在1000W/m2、25℃的時間太少了！所以，就需要進行一個測試值向標(biāo)準(zhǔn)值的轉(zhuǎn)化，而輸出功率與輻照度僅在一個很小的區(qū)間內(nèi)正相關(guān)。如圖2所示，即使在800W/m2時，也不是正相關(guān)的。因此，在轉(zhuǎn)化的時候，肯定存在誤差。
另外，很多組件出場可能就是-3%的功率偏差，還沒衰減，3%就直接沒了……
2EL測試

電池片原因：電池片方塊電阻的均勻性、減反射層的厚度和折射率等對PID性能都有著不同的影響。
上述引起PID現(xiàn)象的三方面中，由在光伏系統(tǒng)中的組件邊框與組件內(nèi)部的電勢差而引起的組件PID現(xiàn)象被行業(yè)所公認(rèn)，但在組件和電池片兩個方面組件產(chǎn)生PID現(xiàn)象的機理尚不明確，相應(yīng)的進一步提升組件的抗PID性能的措施仍不清楚。
3電池片隱裂

光伏組件原因：高溫、高濕的外界環(huán)境使得電池片和接地邊框之間形成漏電流，封裝材料、背板、玻璃和邊框之間形成了漏電流通道。通過使用改變絕緣膠膜乙烯醋酸乙烯酯（EVA）是實現(xiàn)組件抗PID的方式，在使用不同EVA封裝膠膜條件下，組件的抗PID性能會存在差異。另外，光伏組件中的玻璃主要為鈣鈉玻璃，玻璃對光伏組件的PID現(xiàn)象的影響至今尚不明確；