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鉑層厚度測試儀膜厚測厚儀

更新時間:2025-09-18 [舉報]
天瑞儀器X射線熒光鍍層測厚儀

X射線熒光鍍層測厚儀的廠家天瑞生產(chǎn)此類設(shè)備。您可以通過天瑞網(wǎng)站或者聯(lián)系他們的客服,了解更多關(guān)于他們的產(chǎn)品信息和服務(wù)。祝您找到適合的設(shè)備和廠家。

X射線熒光鍍層測厚儀主要用于測量固體表面鍍層或涂層的厚度及成分,不能直接檢測液態(tài)電鍍液中的金屬含量。原因如下:

1. **樣品形態(tài)限制**:X射線熒光(XRF)技術(shù)通常針對固體樣品設(shè)計,液體樣品因流動性可能導(dǎo)致測量不穩(wěn)定,且標準校準曲線通?;诠腆w樣品建立。

2. **儀器設(shè)計差異**:鍍層測厚儀的聚焦光路和檢測器優(yōu)化適用于固體表面分析,而電鍍液檢測需要的液體樣品池或前處理(如烘干成固體膜)。

3. **替代方案**:
- **實驗室化學(xué)分析**(如ICP-OES、AAS)可直接測定電鍍液金屬離子濃度。
- **液體XRF設(shè)備**(需配備液體樣品盒)可能適用,但并非鍍層測厚儀的常規(guī)功能。

若需檢測電鍍液金屬含量,建議選擇上述針對性方法,而非鍍層測厚儀。

以下是X射線鍍層測厚儀的標準操作流程:

一 準備工作
1 檢查儀器電源是否充足,確認設(shè)備處于穩(wěn)定狀態(tài)
2 準備待測樣品,確保樣品表面清潔
3 根據(jù)測量需求選擇合適的測量模式和參數(shù)

二 儀器校準
1 開啟設(shè)備電源,等待系統(tǒng)自檢完成
2 使用標準校準片進行儀器校準
3 確認校準結(jié)果符合要求后方可進行測量

三 樣品測量
1 將樣品平穩(wěn)放置在測量平臺上
2 調(diào)整測量頭與樣品表面的距離,確保符合焦距要求
3 按下測量鍵進行鍍層厚度檢測
4 保持測量過程穩(wěn)定,避免震動或移動

四 數(shù)據(jù)處理
1 記錄測量結(jié)果,包括數(shù)值和測量位置信息
2 對異常數(shù)據(jù)進行復(fù)測確認
3 保存測量數(shù)據(jù)至存儲位置

五 結(jié)束工作
1 關(guān)閉儀器電源
2 清潔測量平臺和探頭
3 將設(shè)備歸位并做好使用登記

注意事項:
1 操作人員需經(jīng)過培訓(xùn)
2 測量時需佩戴必要的防護裝備
3 定期進行設(shè)備維護和校準
4 遵守實驗室安全操作規(guī)程

標簽:膜厚測量儀X射線膜厚儀
江蘇天瑞儀器股份有限公司
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