【SIMS測(cè)試】
服務(wù)背景：半導(dǎo)體行業(yè)需監(jiān)控晶圓中ppb級(jí)摻雜元素分布。
檢測(cè)重要性：揭示離子注入濃度剖面，影響晶體管閾值電壓。
檢測(cè)周期：7-10個(gè)工作日（含深度剖析）。

廣電計(jì)量能力：
1、賽默飛二次離子質(zhì)譜，深度分辨率<5nm；
2、檢測(cè)硅片中硼元素梯度分布（檢出限0.1ppb）；

廣電計(jì)量擁有的化學(xué)分析檢測(cè)設(shè)備和的人才隊(duì)伍。能力范圍覆蓋提供有毒有害物質(zhì)檢測(cè)（RoHS、REACH、POPs、VOC，消耗臭氧層物質(zhì)等）、材料成分性能分析、可靠性壽命預(yù)計(jì)、食品接觸材料等多領(lǐng)域測(cè)試、評(píng)估、認(rèn)證及培訓(xùn)服務(wù)。

【XRD檢測(cè)】
背景：1912年勞厄發(fā)現(xiàn)晶體X射線衍射現(xiàn)象，1953年沃森-克里克據(jù)此解析DNA結(jié)構(gòu)。
重要性：材料相組成決定力學(xué)性能與化學(xué)穩(wěn)定性，是質(zhì)量控制必檢項(xiàng)目。
產(chǎn)品類型：合金相分析、藥品晶型、礦物組成。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：JCPDS PDF卡片庫(kù)、GB/T 23413（納米材料）。


【氣體定性定量分析測(cè)試】
氣相色譜儀是一種多組份混合物的分離、分析工具，它是以氣體為流動(dòng)相，采用沖洗法的柱色譜技術(shù)，當(dāng)多組份的分析物質(zhì)進(jìn)入到色譜柱時(shí)，由于各組分在色譜 柱中的氣相和固定液液相間的分配系數(shù)不同，因此各組份在色譜柱的運(yùn)行速度也就不同，經(jīng)過一定的柱長(zhǎng)后，順序離開色譜柱進(jìn)入檢測(cè)器，經(jīng)檢測(cè)后轉(zhuǎn)換為電信號(hào)送 至數(shù)據(jù)處理工作站，從而完成了對(duì)被測(cè)物質(zhì)的定性定量分析。

服務(wù)背景：動(dòng)力電池?zé)崾Э蒯尫艢怏w成分決定安全防護(hù)設(shè)計(jì)。
檢測(cè)重要性：識(shí)別HF、CO等劇毒氣體生成量。
檢測(cè)周期：3個(gè)工作日（常規(guī)氣體）/7個(gè)工作日（腐蝕性氣體）。
廣電計(jì)量能力：檢測(cè)項(xiàng)目同樣豐富，包括成分分析、對(duì)比分析、材料熱分析和定性定量分析等。此外，還有純度、過氧化物、總烴發(fā)熱量、水分、沃泊指數(shù)、成分含量、密度、未知?dú)怏w和硫化物等常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目。