礦石光譜儀通常由光源、光柵、檢測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。光源發(fā)出特定波長的光束，經(jīng)過光柵的分光作用，將光束分成不同波長的光線。這些光線經(jīng)過礦石樣品后，部分被吸收、反射或透射。檢測器會測量礦石樣品在不同波長下的光強(qiáng)度，并將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。

分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試： 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

鐵礦石光譜儀是一種用于分析鐵礦石樣品中的化學(xué)成分和礦物組成的儀器。它通過測量鐵礦石樣品在不同波長的電磁輻射下的吸收或發(fā)射光譜，來確定樣品中的元素和礦物組成。

鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過樣品室或探頭被照射光源照射，樣品會吸收特定波長的光，而其他波長的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會被光譜儀接收并分析。

特點(diǎn)優(yōu)勢
快速：能在短時(shí)間內(nèi)獲取礦石的成分信息，大大提高了勘探和分析效率。
無損檢測：不會對礦石樣品造成損害，有利于后續(xù)的深入研究和分析。
多元素檢測：可以同時(shí)對礦石中的多種元素進(jìn)行檢測，覆蓋范圍廣，為礦產(chǎn)勘探提供全面的元素分析數(shù)據(jù)。
操作簡便：儀器的操作界面通常較為簡潔，即使是非人員也能快速上手。

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