礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器。它利用光的特性來測量礦石樣品在不同波長下的吸收、反射和透射情況，從而推斷出礦石的組成和特性。

QCYQ-JS9000B 礦石光譜分析儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。線性動態(tài)范圍，可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行精度的過程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和分辨率技術(shù)的新一代fast sdd檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物（Na2o、Mgo、Al2o3、Sio2、P2o5、So、k2o、Cao、Tio2、Cr2o、Mno、Fe2o、Zno和sro等）都可達(dá)到分析效果。

分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試： 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

礦石光譜分析儀市場前景廣闊。礦石是重要的資源，對于許多行業(yè)和國家的經(jīng)濟(jì)發(fā)展至關(guān)重要。光譜分析儀是一種的儀器，可以用于礦石的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)分析，以及礦石質(zhì)量的評估。

鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過樣品室或探頭被照射光源照射，樣品會吸收特定波長的光，而其他波長的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會被光譜儀接收并分析。

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