目前來(lái)看，電子產(chǎn)品銷毀公司在進(jìn)行文件銷毀的過(guò)程當(dāng)中，完全可以用刀割盤(pán)片的方法直接進(jìn)行銷毀，比如他們可以通過(guò)這樣的一種方式，讓整個(gè)硬盤(pán)全部都給損壞，基本上也就是，摧毀了整個(gè)硬盤(pán)上的詞條，這樣的話，一些小的當(dāng)然還是有可能有機(jī)會(huì)被讀出來(lái)的，但是幾率并不是特別大。

廢舊電子產(chǎn)品處理絕不僅僅是直接填埋或是直接焚毀這么簡(jiǎn)單，因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品中含有大量重金屬，使用這兩種方造成環(huán)境的嚴(yán)重破壞，填埋有毒有害玩具會(huì)致使土地資源被污染，嚴(yán)重的可能會(huì)污染至地下水；導(dǎo)致喝過(guò)污染水的人畜患上惡性疾病，而焚燒有毒如果沒(méi)有的處理，極易造成大氣污染以及有毒氣體蔓延，造成不可想象的災(zāi)難，

電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)類型：
1、按試驗(yàn)項(xiàng)目可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)和特殊試驗(yàn)；
2、按試驗(yàn)?zāi)康目煞譃楹Y選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)；
3、按試驗(yàn)性質(zhì)可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。

汽車電子產(chǎn)品的檢測(cè)項(xiàng)目：
1、功能/性能測(cè)試，車燈的光學(xué)性能、熱學(xué)性能、車載系統(tǒng)的使用功能、光學(xué)性能、聲學(xué)功能等；
2、環(huán)境與可靠性測(cè)試，加速壽命測(cè)試、高低溫測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試等；
3、環(huán)保與化學(xué)測(cè)試，RoHS檢測(cè)、揮發(fā)性有機(jī)物檢測(cè)等；
4、電磁兼容測(cè)試，發(fā)射、傳導(dǎo)發(fā)射、抗擾度、傳導(dǎo)抗擾度、傳導(dǎo)瞬態(tài)發(fā)射、傳導(dǎo)瞬態(tài)抗擾度等。

電子產(chǎn)品檢測(cè)中心告訴您：電子產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)都測(cè)試些什么東西
1、濕熱試驗(yàn)
濕度范圍：30%RH～RH。
2、沖擊試驗(yàn)
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方式 沖擊試驗(yàn)》開(kāi)展沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
3、低溫試驗(yàn)
溫度范圍：-70℃～10℃。
4、跌落試驗(yàn)
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方式 傾跌與翻到試驗(yàn)》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方式 自由跌落試驗(yàn)》開(kāi)展跌落試驗(yàn)。
5、碰撞試驗(yàn)
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方式 碰撞試驗(yàn)》開(kāi)展碰撞試驗(yàn)。
6、低氣壓試驗(yàn)
開(kāi)展低氣壓試驗(yàn)，高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。范圍：70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動(dòng)試驗(yàn)
頻率范圍（機(jī)械振動(dòng)臺(tái)）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺(tái)）：5～3000Hz，位移25mmP-P。
8、高溫試驗(yàn)
溫度范圍：10℃～210℃。
9、鹽霧試驗(yàn)
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方式 鹽霧試驗(yàn)》開(kāi)展鹽霧試驗(yàn)。
10、霉菌試驗(yàn)
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方式 長(zhǎng)霉試驗(yàn)》開(kāi)展霉菌試驗(yàn)。
我們經(jīng)常會(huì)遇到例如電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)電子產(chǎn)品是否接觸不良、是否有噪音、表面是否銹蝕、開(kāi)裂、變形等情況，這時(shí)我們需要采用的儀器抗壓測(cè)試儀，絕緣電阻，波形采用的是示波器；電流/電壓等用萬(wàn)用電表等來(lái)做電子產(chǎn)品檢測(cè)！

電子產(chǎn)品可靠性檢測(cè)機(jī)構(gòu)-找訊科標(biāo)準(zhǔn)
可靠性測(cè)試
目前，國(guó)內(nèi)汽車電子產(chǎn)品可靠性通用的可靠性測(cè)試手段，一般是在研發(fā)時(shí)采用傳統(tǒng)的性能各異的溫濕度箱來(lái)驗(yàn)證提高產(chǎn)品的可靠性性能;在線生產(chǎn)采用的是老化壽命(即高溫等)的傳統(tǒng)測(cè)試方法。僅依靠以上這些傳統(tǒng)的測(cè)試手段，要達(dá)到目前國(guó)外汽車電子產(chǎn)品的技術(shù)指標(biāo)，尚存在著一定的困難。
產(chǎn)品都有其缺陷所在，當(dāng)這些故障發(fā)生時(shí)產(chǎn)品往往已超過(guò)了時(shí)效，尤其是配套應(yīng)用在汽車上的汽車電子產(chǎn)品可靠性，如DVD﹑汽車音響﹑多媒體接收系統(tǒng)等。如果不能在早期發(fā)現(xiàn)并解決潛藏在這些電子產(chǎn)品中的問(wèn)題，而等其裝配到汽車上，用戶使用一段時(shí)間后才讓問(wèn)題慢慢顯露出來(lái)，則會(huì)給制造商和用戶帶來(lái)大的損失。解決問(wèn)題，先要發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的所在，借由增加外部環(huán)境應(yīng)力﹑強(qiáng)迫故障提早暴露出來(lái)，是早期發(fā)現(xiàn)和解決問(wèn)題的一個(gè)有效方法。
汽車電子可靠性的主要測(cè)試功能如下：
* 利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來(lái)，并加以改善;
* 了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式;
* 作為高應(yīng)力篩選及稽核規(guī)格制定的參考;
* 快速找出產(chǎn)品制造過(guò)程的瑕疵;
* 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本;
* 建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫(kù)，為研發(fā)提供依據(jù)并可縮短設(shè)計(jì)制造周期。
在汽車電子可靠性試驗(yàn)中可找到被測(cè)物在溫度及振動(dòng)應(yīng)力下的可操作界限與破壞界限。此實(shí)驗(yàn)所用設(shè)備為QualMark公司所設(shè)計(jì)的綜合環(huán)境試驗(yàn)機(jī)(OVS Combined Stress System)，溫度范圍為-100℃～+200℃，溫度變化速率為60℃/min，加速度可到60Grms，而且振動(dòng)機(jī)與溫度箱合二為一的設(shè)計(jì)可同時(shí)對(duì)被測(cè)物施加溫度與振動(dòng)應(yīng)力。以下就四個(gè)試程的一般情況分別加以說(shuō)明：
(1)溫度應(yīng)力
此項(xiàng)試驗(yàn)分為低溫及高溫兩個(gè)階段應(yīng)力。先執(zhí)行低溫階段應(yīng)力，設(shè)定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩(wěn)定后維持10min，之后在階段穩(wěn)定溫度下執(zhí)行至少一次的功能測(cè)試，如一切正常則將溫度再降10℃，并待溫度穩(wěn)定后維持10min再執(zhí)行功能，依此類推直至發(fā)生功能故障，以判斷是否達(dá)到操作界限或破壞界限;在完成低溫應(yīng)力試驗(yàn)后，可依相同程序執(zhí)行高溫應(yīng)力試驗(yàn)，即將綜合環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)機(jī)自20℃開(kāi)始，每階段升溫10℃，待溫度穩(wěn)定后維持10min，而后執(zhí)行功能測(cè)試直到發(fā)現(xiàn)高溫操作界限及高溫破壞界限為止。

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