全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量 對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過(guò)積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對(duì)于包含大量低Z材料的樣品）或通過(guò)簡(jiǎn)單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

鐵精粉光譜儀是一種用于分析和檢測(cè)鐵精粉樣品的儀器。它通過(guò)測(cè)量樣品與電磁輻射之間的相互作用，獲得樣品的光譜信息，從而分析樣品的組成、結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。

鐵精粉光譜儀通常采用光學(xué)原理，包括可見(jiàn)光、紅外光和紫外光等波長(zhǎng)范圍。它通過(guò)將樣品暴露在特定波長(zhǎng)的光下，測(cè)量樣品對(duì)光的吸收、散射或發(fā)射等特性，然后根據(jù)這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀，可以對(duì)鐵精粉樣品的化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)、雜質(zhì)含量和物理性。

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